(VEDFW)aver

(VEDFW)μέσο

× (VEDFW)aver

Χ (VEDFW)μέσο

× (VEDFW,i)

Χ (VEDFW,i)

VSAM × (VEDFW,i)

VSAM Χ (VEDFW,i)

VEDFW,i = VTOTW,i

VEDFW,i = VTOTW,i

VEDFW,i = VEXHW,i × qi

VEDFW,i = VEXHW,i Χ qi

WFE,i = VSAM,i × (VEDFW)aver

WFE,i = VSAM,i Χ (VEDFW)aver

(VEDFW)aver = Ói=1n VEDFW,i × WFi

(VEDFW)μέσο = Σi=1nVEDFW,i Χ WFi

The accuracy of the measuring systems has to be such that the accuracy of GEDFW,i or VEDFW,i is within ± 4 %.

Η ορθότητα των συστημάτων μετρήσεως πρέπει να είναι τέτοια ώστε η ορθότητα των GEDFW,i ή VEDFW,i να κινείται στα όρια του ± 4 %.

(GEDFW)aver, (VEDFW)aver, (MSAM)aver, (VSAM)aver over the test cycle shall be determined by summation of the average values of the individual modes during the sampling period:

(GEDFW)μέσο, (VEDFW)μέσο, (MSAM)μέσο, (VSAM)μέσο κατά τον κύκλο της δοκιμής προσδιορίζονται δι' αθροίσεως των μέσων τιμών των επιμέρους φάσεων λειτουργίας κατά την διάρκεια της περιόδου δειγματοληψίας:

DF = 13,4/ concCO2 For multiple filter method: PTmass,i = [ Mf,i MSAM,i Md MDIL DF GEDFW,i or: PTmass,i = [ Mf,i VSAM,i Md VDIL DF VEDFW,i If more than one measurement is made, (Md/MDIL) or (Md/VDIL) shall be replaced with (Md/MDIL)aver or (Md/VDIL)aver, respectively.

DF = 13,4/ concCO2 Στη μέθοδο των πολλαπλών φίλτρων: PTmass,i = [ Mf,i MSAM,i Md MDIL DF GEDFW,i PTmass,i = [ Mf,i VSAM,i Md VDIL DF VEDFW,i Εάν γίνουν περισσότερες της μιας μετρήσεις, τα (Md/MDIL) ή (Md/VDIL) αντικαθίστανται από τα (Md/MDIL)μέσο ή (Md/VDIL)μέσο, αντίστοιχα.