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2, bezugsz. 1) eines rastersondenmikroskops beschrieben, die zum abtasten der topographie einer probenoberfläche bis hin zu atomarer auflösung dient.
l'invention concerne un système de fixation pour la pointe d'exploration (repère 1 dans fig. 2) d'un microscope d'exploration par balayage, qui sert à explorer par balayage la topographie de la surface d'un échantillon, à des niveaux de résolution de l'ordre du niveau atomique.

die erfindung bezieht sich auf ein verfahren zum scannen einer probenoberfläche, insbesondere mittels einer rastersonde eines rastersondenmikroskops, bei dem sich rasternadel und probe relativ zu einander bewegen.
selon un procédé de balayage de la surface d'un échantillon, notamment au moyen de la sonde de balayage d'un microscope à forces atomiques, la pointe de balayage et l'échantillon se déplacent l'un par rapport à l'autre.

es wird auch ein geeignetes rastersondenmikroskop zur durchführung dieses verfahrens beschrieben
l'invention concerne également un microscope-sonde à balayage convenant à l'exécution de ce procédé.