Vous avez cherché: retraversant (Français - Anglais)

À la fin du circuit, regagnez le point de départ en retraversant la rivière.
at the end of the circuit, the route crosses back over the weissenbach brook and leads back to the starting point.

le long des fibres optiques, les signaux optiques sont rétrodiffusés et ces rétrodiffusions repartent vers le dispositif otdr 1 en retraversant le contrôleur de polarisation 2.
along the optical fibers, the light signals are back-scattered and the back-scattered light returns towards the otdr device and passes through the polarization controller 2 .

il est parfois souhaitable, dans un microscope électronique à balayage (meb), de saisir une image de l'échantillon (14) à l'aide d'électrons d'auger extraits de cet échantillon, ces électrons retraversant la cavité d'un objectif (8) dans le sens opposé à celui du faisceau primaire. on peut séparer les électrons extraits de ce faisceau primaire en plaçant des filtres de wien (32, 34) devant l'objectif (8), ces filtres étant mis sous tension de sorte qu'ils ne provoquent aucune déflexion dudit faisceau primaire mais font dévier les électrons secondaires. cette technique ne peut toutefois pas être utilisée pour les électrons d'auger, en raison de leur haute énergie et donc des champs plus intenses qu'ils forment dans les filtres de wien, ce qui provoque une aberration d'imagerie considérable dans ledit faisceau primaire. selon cette invention, un champ quadripôle est en outre appliqué au même emplacement que les champs de chaque filtre de wien (32, 34, 36), empêchant ainsi toute dégradation de la résolution de l'image dudit échantillon (14) qui pourrait être causée par les champs de ces filtres de wien.
in an sem it is desirable, in given circumstances, to acquire an image of the sample (14) by means of auger electrons extracted from the sample and traveling back through the bore of the objective lens (8) in the direction opposing the direction of the primary beam. it is known to separate extracted electrons from the primary beam by positioning wien filters (32, 34) in front of the objective lens (8), the filters being energized in such a way that they do not cause deflection of the primary beam but do defect the secondary electrons. this technique cannot be used for auger electrons, considering their high energy and hence much stronger fields in the wien filters, thus causing substantial imaging aberrations in the primary beam. according to the invention a quadrupole field is applied in the same position as the fields of each wien filter (32, 34, 36), thus ensuring that the resolution of the image of the sample (14) is not degraded by the fields of the wien filters.