検索ワード: hinzugeschaltet (ドイツ語 - フランス語)

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ドイツ語

フランス語

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ドイツ語

wird ein zweiter hinzugeschaltet, geht die drehzahl um 50% runter.

フランス語

si un deuxième est allumé, la vitesse de rotation diminue de 50%.

最終更新: 2012-09-27
使用頻度: 1
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ドイツ語

• mehrere generatoren können stufenweise hinzugeschaltet werden, um die drehzahlbereiche optimal auszunutzen.

フランス語

• plusieurs générateurs peuvent être raccordés peu à peu, afin d'exploiter de façon optimale la vitesse qui varie.

最終更新: 2012-09-27
使用頻度: 1
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ドイツ語

chip mit integrierter halbleiterschaltung (ic, integrated circuit), der eine vielzahl p von widerstandsstrukturen (rs1, ... ) enthält, wobei jede dieser widerstandsstrukturen folgendes umfasst: einen hauptwiderstand (r1) und eine widerstandsanordnung, wobei jede anordnung (15-1, ... ) aus einer vielzahl n (n ≥ 2) von parallel hinzugeschalteten justierwiderständen (r1-1, ... ) besteht, deren Äquivalenzwiderstandswert durch einen tester elektrisch abgeglichen werden kann; wobei jeder justierwiderstand einen festen gewichtungswert aufweist und unabhängig von den anderen durch einen seriell damit verbundenen schalter (pg1-1, ... ) elektrisch parallel zu dem hauptwiderstand geschaltet werden kann; und wobei der halbleiter-ic-chip ferner folgendes umfasst: n binäre speicherzellen, wobei jede speicherzelle (17-1, ... ) mit einer programmierbaren sicherung (f1, ... ) zum steuern einer justierleitung (16-1) versehen ist, die mit dem zugehörigen schalter (pg-1) verbunden ist, um diesen zu schließen oder zu öffnen, sodass alle justierwiderstände, die denselben gewichtungswert in der widerstandsanordnung haben, zu ihrem jeweiligen hauptwiderstand parallel geschaltet sind oder nicht.

フランス語

puce de circuit intégré à semiconducteur (ic) comprenant une pluralité p de structures de résistances (rs1 ...), chacune desdites structures de résistances comprenant une résistance principale (r1) et un réseau de résistances, chaque réseau (15-1, ...) étant constitué d'une pluralité n (n ≥ 2) de résistances d'ajustement (r1-1, ...) reliées en parallèle sur celui-ci, dont la valeur ohmique équivalente peut être électriquement ajustée par un dispositif de test, dans lequel chaque résistance d'ajustement présente une valeur de poids fixe et peut être reliée électriquement en parallèle sur la résistance principale indépendamment des autres résistances par un commutateur (pg1-1, ...) relié en série avec celles-ci, et ladite puce de circuit intégré à semiconducteur comprenant en outre n cellules de mémorisation binaires, chaque cellule de mémorisation (17-1, ...) étant munie d'un fusible programmable (f1, ...) pour commander une ligne d'ajustement (16-1) reliée au commutateur (pg-1) associé à celle-ci afin de l'activer ou la désactiver de manière à ce que toutes les résistances d'ajustement présentant la même valeur de poids fixe dans lesdits réseaux de résistance sont reliées en parallèle sur leur résistance principale respective ou non.

最終更新: 2014-12-03
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