プロの翻訳者、企業、ウェブページから自由に利用できる翻訳レポジトリまで。
reticle
luneta
最終更新： 2011-01-14
使用頻度： 1
品質：
for inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices
do sprawdzania płytek lub urządzeń półprzewodnikowych, lub do sprawdzania fotomasek lub siatek stosowanych do produkcji urządzeń półprzewodnikowych
最終更新： 2019-04-13
使用頻度： 10
品質：