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interféromètrie
interferometry
마지막 업데이트: 2011-07-27
사용 빈도: 1
품질:
la mesure par interférométrie gps peut être effectuée à cadence élevée mais la précision de la mesure d'attitude par interféromètrie gps seule est limitée à une valeur qui peut être insuffisante.
measurement by gps interferometry can be performed at a high rate, but the accuracy with which attitude is measured by gps interferometry on its own is limited to a value that may be insatisfactory.
la demande concerne un appareil de mesure de l'indice de réfraction d'un fluide par interféromètrie en lumière blanche, à deux ondes.
the application relates to an apparatus for measuring the refractive index of a fluid by two-wave, white-light interferometry.
ces dernières subissent donc des déphasages produisant, après regroupement dans la zone d'expansion 3, des interférences selon le principe de l'interféromètrie de mach-zender.
the light waves are therefore subjected to phase shifting which, after they are recombined in expansion zone 3, gives rise to interference in application of the mach-zender principles of interferometry.
un appareil (1) servant à déterminer le sens de déplacement d'une surface (2) dans le même plan, selon le principe de l'interféromètrie, dirige sur la surface (2) deux faisceaux de lumière cohérente (b1) et (b2) qui sont polarisés en un plan orthogonal l'un par rapport à l'autre. des faisceaux (r1) et (r2) dispersés de la surface (2) sont divisés dans un séparateur de faisceaux (14) en faisceaux secondaires (sb1) et (sb2). des polarisateurs (24) et (30) polarisent dans un plan les faisceaux (sb1) et (sb2) afin de produire des configurations d'interférence à tachetures sur des transducteurs (20) et (21). une lame quart d'onde (28) effectue un décalage de phase de l'une des composantes du faisceau secondaire (sb1) de l'ordre de 90° par rapport à l'autre composante du faisceau secondaire (sb1). un circuit (35) détermine le sens du décalage de phase des configurations d'interférence à tachetures afin de déterminer le sens de déplacement de la surface de l'objet (2).
apparatus (1) for determining direction of in-plane displacement of a surface (2) based on the principle of interferometry directs two beams of coherent light (b1) and (b2) which are orthogonally plane polarised relative to each other at the surface (2). scattered beams (r1) and (r2) from the surface (2) are split in a beam splitter (14) into secondary beams (sb1) and (sb2). plane polarisers (24) and (30) plane polarise the beams (sb1) and (sb2) for forming speckle interference patterns on transducers (20) and (21). a quarter wave plate (28) phase shifts one of the components in the secondary beam (sb1) by 90° relative to the other component of the secondary beam (sb1). circuitry (35) determines the direction of phase shift of the speckle interference patterns for determining the direction of displacement of the object surface (2).