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setter
setter
Última atualização: 2014-08-20
Frequência de uso: 2
Qualidade:
beschichtete platte aus refraktärem metall mit einem -oberflächenschicht aus oxid und diese platte enthaltende setter für ein sinter-verfahren
plaque métallique réfractaire revêtue présentant une couche d'oxyde superficielle et support d'enfournement pour procédé de frittage l'utilisant
Última atualização: 2014-12-03
Frequência de uso: 1
Qualidade:
analyseverfahren mit induktiv gekoppeltem hochfrequenzplasma (icp = inductively-coupled radio frequency plasma), mit einer schaltventileinrichtung (16) zum umschalten des flusses einer probe, welche schaltventileinrichtung zwischen eine probenvernebelungskammer (34) und einen plasmabrenner (2) geschaltet ist, mit den folgenden verfahrensschritten: erstes umschalten der schaltventileinrichtung (16) auf die sette des plasmabrenners (2) nur während einer icp-analysezeitspanne, um die probe in den plasmabrenner (2) einzuführen; erstes zuführen elektrischer leistung einer ersten hochfrequenz zu einer induktionsspule (10) und eines ersten gasvolumens zum plasmabrenner (2) unter der bedingung, daß die in den plasmabrenner (2) eingeführte probe zu plasma ionisiert wird; analysieren des probenplasmas; zweites umschalten der schaltventileinrichtung (16) zur ausgangsseite (26') der probe während zeiten außerhalb der icp-analysezeitspanne; und zweites zuführen elektrischer leistung einer zweiten hochfrequenz zur induktionsspule (10) und eines zweiten gasvolumens zum plasmabrenner (2) unter der bedingung, daß im plasmabrenner (2) ein kontrollichtplasma aufrechterhalten wird.
procédé d'analyse d'un plasma à radiofréquence à couplage inductif (pci) comportant un moyen formant valve de commutation (16) pour commuter un flux d'un échantillon, ledit moyen formant valve de commutation étant intercalé entre un moyen formant chambre de nébulisation (34) d'échantillon et un moyen formant chalumeau (2) à plasma, comprenant les étapes consistant à: basculer une première fois ledit moyen formant valve de commutation (16) du côté dudit moyen formant chalumeau (2) à plasma uniquement pendant une période d'analyse de pci afin d'introduire l'échantillon dans ledit moyen formant chalumeau (2) à plasma; fournir une première fois à un moyen formant bobine d'induction (10) un premier courant électrique à haute fréquence et audit moyen formant chalumeau (2) à plasma un premier volume de gaz dans des conditions telles que l'échantillon introduit dans ledit moyen formant chalumeau (2) à plasma est ionisé sous forme de plasma; analyser le plasma de l'échantillon; basculer une deuxième fois ledit moyen formant valve de commutation (16) du côté (26') de sortie de l'échantillon pendant des périodes excluant la période d'analyse de pci; et fournir une deuxième fois audit moyen formant bobine d'induction (10) un second courant électrique à haute fréquence et audit moyen formant chalumeau (2) à plasma un second volume de gaz dans des conditions telles qu'un plasma pour veilleuse est maintenu dans ledit moyen formant chalumeau (2) à plasma.
Última atualização: 2014-12-03
Frequência de uso: 1
Qualidade: