A partir de tradutores profissionais, empresas, páginas da web e repositórios de traduções disponíveis gratuitamente
apparatus for performing measurements of the physical properties of semiconductor materials or of lcd substrates or associated insulating and conducting layers during the semiconductor wafer production process or the lcd production process
Συσκευές για τη διενέργεια μετρήσεων των φυσικών ιδιοτήτων των ημιαγωγών υλικών ή των οθονών υγρών κρυστάλλων ή των σχετικών μονωτικών και αγώγιμων στρωμάτων κατά τη διαδικασία παραγωγής ημιαγωγών δίσκων (wafers) ή κατά τη διαδικασία παραγωγής οθονών υγρών κρυστάλλων
raw substrates, processed substrates having surface coatings (single-layer or multi-layer, metallic or dielectric, conducting, semiconducting or insulating) or having protective films;
Ανεπεξέργαστα υποστρώματα, επεξεργασμένα υποστρώματα που έχουν επιφανειακές επικαλύψεις (μονής ή πολλών στρώσεων, μεταλλικής ή διηλεκτρικής, αγώγιμης, ημιαγώγιμης ή μονωτικής) ή που έχουν προστατευτικά υμένια,
