Обучается переводу с помощью примеров, переведенных людьми.
Добавлены профессиональными переводчиками и компаниями и на основе веб-страниц и открытых баз переводов.
voor het meten of het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderschakelingen
for measuring or checking semiconductor wafers or devices
Последнее обновление: 2014-11-21
Частота использования: 5
Качество:
instrumenten, apparaten en toestellen voor het meten of het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderschakelingen
instruments and apparatus for measuring or checking semiconductor wafers or devices
Последнее обновление: 2014-11-21
Частота использования: 2
Качество:
optische instrumenten, apparaten en toestellen voor het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderschakelingen of voor het verifiëren van fotomaskers gebruikt in de fabricage van halfgeleiderschakelingen
optical instruments and appliances for inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices
Последнее обновление: 2014-11-21
Частота использования: 1
Качество:
voor het verifiëren van halfgeleiderschijven of -schakelingen of voor het verifiëren van fotomaskers of van patroonmaskers of systeemmaskers („reticles”) die worden gebruikt bij de vervaardiging van elementen of schakelingen van halfgeleidermateriaal
for inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices
Последнее обновление: 2014-11-21
Частота использования: 5
Качество:
instrumenten, apparaten en toestellen voor het meten of het verifiëren van elektrische grootheden, met registreerinrichting (m.u.v. die voor het meten of het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderschakelingen en die welke speciaal zijn vervaardigd voor de telecommunicatietechniek en m.u.v. kathodestraaloscillografen)
instruments and appliances for measuring or checking electrical quantities, with recording device (excl. appliances specially designed for telecommunications, cathode-ray oscillographs and apparatus for measuring or checking semiconductor wafers or devices)
Последнее обновление: 2014-11-21
Частота использования: 1
Качество: