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method for correcting errors by de-embedding dispersion parameters, network analyst and switching module
procede pour corriger des erreurs par retrait d'enrobage de parametres de dispersion, analyseur de reseau et module de commutation
method for calibrating and de-embedding, set of devices for de-embedding and vector network analyzer
procede d'etalonnage et de desintegration, ensemble de dispositifs de desintegration et analyseur de reseau vectoriel
the invention relates to a method for correcting errors by de-embedding dispersion parameters of a measuring object associated with measuring gates, said parameters being measured by a vectorial network analyst comprising n measuring gates
l'invention concerne un procédé pour corriger des erreurs par retrait d'enrobage de paramètres de dispersion d'un objet de mesure associé à des portes de mesure, ce paramètre étant mesuré par un analyseur de réseau vectoriel comportant n portes de mesure
therefore, by measuring these coefficients for known patterns, this contribution can be eliminated by calculation (de-embedding), so that the elements of integrated circuits are tested with a high precision.
en mesurant donc ces coefficients pour des motifs connus, on peut éliminer cette participation par le calcul (en anglais : de-embeding) et ainsi tester les éléments de circuits intégrés avec une grande précision.
the invention relates to a method for correcting errors by de-embedding dispersion parameters of a measuring object associated with measuring gates (11), said parameters being measured by a vectorial network analyst comprising n measuring gates.
l'invention concerne un procédé pour corriger des erreurs par retrait d'enrobage de paramètres de dispersion d'un objet de mesure associé à des portes de mesure (11), ce paramètre étant mesuré par un analyseur de réseau vectoriel comportant n portes de mesure (11).
the "s" parameters of the component are extracted by computation of the global measurement in accordance with the known method referred-to-as "de-embedding," which need not be discussed here.
les paramètres en "s" du composant sont extraits par le calcul de la mesure globale, selon la méthode dite d'épluchage ou de "de-embeding", connue et qu'il n'y a pas lieu de décrire ici.