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topografie eines halbleitererzeugnisses (ntsp)
topografia di prodotti a semiconduttori (ntsp)
Dernière mise à jour : 2014-11-18
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Qualité :
b) die geschäftliche verwertung und die für diesen zweck erfolgende einfuhr einer topographie oder eines halbleitererzeugnisses, das unter verwendung dieser topographie hergestellt wurde.
b) sfruttamento commerciale o importazione per tale scopo della topografia o di un prodotto a semiconduttori fabbricato sfruttando la topografia.
Dernière mise à jour : 2014-10-23
Fréquence d'utilisation : 1
Qualité :
b) »topographie" eines halbleitererzeugnisses eine reihe in verbindung stehender bilder, unabhängig von der art ihrer fixierung oder kodierung,
b) si intende per « topografia » di un prodotto a semiconduttori una serie di disegni correlati, comunque fissati o codificati,
Dernière mise à jour : 2014-10-23
Fréquence d'utilisation : 1
Qualité :
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ii) wobei die bilder so miteinander in verbindung stehen, daß jedes bild das muster oder einen teil des musters einer oberfläche des halbleitererzeugnisses in einem beliebigen fertigungsstadium aufweist;
ii) nella qual serie ciascuna immagine riproduce in tutto o in parte una superficie del prodotto a semiconduttori in uno stadio qualsiasi della sua fabbricazione;
Dernière mise à jour : 2014-10-23
Fréquence d'utilisation : 1
Qualité :
(2) die topographie eines halbleitererzeugnisses wird unter der voraussetzung geschützt, daß sie das ergebnis der eigenen geistigen arbeit ihres schöpfers und in der halbleiterindustrie nicht alltäglich ist.
2. la topografia di un prodotto a semiconduttori è tutelata a condizione che sia il risultato dello sforzo intellettuale del suo creatore e che non sia comunemente conosciuta nell'industria dei semiconduttori.
Dernière mise à jour : 2014-10-23
Fréquence d'utilisation : 1
Qualité :
richtlinie 87/54/ewg des rates vom 16. dezember 1986 über den rechtsschutz der topographien von halbleitererzeugnissen
direttiva 87/54/cee del consiglio, del 16 dicembre 1986, sulla tutela giuridica delle topografie di prodotti a semiconduttori
Dernière mise à jour : 2017-04-07
Fréquence d'utilisation : 3
Qualité :