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non-contact testing of printed electronics
test sans contact de composants Électroniques imprimÉs
Dernière mise à jour : 2011-07-27
Fréquence d'utilisation : 1
Qualité :
testing of electronic circuits
essai de circuits electroniques
Dernière mise à jour : 2014-11-25
Fréquence d'utilisation : 4
Qualité :
■ testing of electronic products.
■ les méthodes servant à tester les produits électroniques.
Dernière mise à jour : 2014-02-06
Fréquence d'utilisation : 1
Qualité :
consensus testing of electronic system
essai de consensus pour système électronique
Dernière mise à jour : 2014-11-25
Fréquence d'utilisation : 3
Qualité :
device for testing of electronic components
dispositif pour tester des composants électroniques
Dernière mise à jour : 2014-11-25
Fréquence d'utilisation : 3
Qualité :
device for the emi testing of electronic equipments.
dispositif de test d'interférence électromagnétique pour appareils électroniques.
Dernière mise à jour : 2014-11-25
Fréquence d'utilisation : 4
Qualité :
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a system for burn-in testing of electronic devices
systeme d'essai de vieillissement d'appareils electroniques
Dernière mise à jour : 2014-11-25
Fréquence d'utilisation : 6
Qualité :
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system and method for improved testing of electronic devices
systÈme et procÉdÉ pour l'essai amÉliorÉ d'appareils Électroniques
Dernière mise à jour : 2011-07-27
Fréquence d'utilisation : 1
Qualité :
improvements in or relating to the testing of electronic equipment.
test d'équipement électronique.
Dernière mise à jour : 2014-11-25
Fréquence d'utilisation : 3
Qualité :
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method and equipment for the automatic testing of electronic components
procede et equipement de test automatique de composants electroniques
Dernière mise à jour : 2014-11-25
Fréquence d'utilisation : 4
Qualité :
assembly method and machinery for waterproof testing of electronic devices
procÉdÉ d'assemblage, et machines pour un test d'ÉtanchÉitÉ de dispositifs Électroniques
Dernière mise à jour : 2014-11-25
Fréquence d'utilisation : 4
Qualité :
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method and apparatus for in-circuit testing of electronic devices
procédé pour tester in-circuit un dispositif électronique
Dernière mise à jour : 2014-11-25
Fréquence d'utilisation : 4
Qualité :
process for the analog and/or digital testing of electronic assemblies
procede d'essai analogique et/ou numerique d'ensembles electroniques
Dernière mise à jour : 2014-11-25
Fréquence d'utilisation : 4
Qualité :
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method of fabrication and testing of electronic circuit structures in a semiconducting substrate
méthode de fabrication et de test de structures de circuits electroniques dans un substrat semiconducteur
Dernière mise à jour : 2014-11-25
Fréquence d'utilisation : 3
Qualité :
apparatus for the dynamic in-circuit testing of electronic digital circuit elements
appareil d'examen dynamique dans le circuit des éléments de circuit digital électronique
Dernière mise à jour : 2014-11-25
Fréquence d'utilisation : 3
Qualité :
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analog test instrument architecture for performing functional testing of electronic circuit assemblies is disclosed
l'invention concerne une architecture d'instrument d'essai analogique permettant l'essai fonctionnel d'ensembles de circuits électroniques
Dernière mise à jour : 2011-07-27
Fréquence d'utilisation : 1
Qualité :
analog test instrument architecture for performing functional testing of electronic circuit assemblies is disclosed.
l'invention concerne une architecture d'instrument d'essai analogique permettant l'essai fonctionnel d'ensembles de circuits électroniques.
Dernière mise à jour : 2014-12-03
Fréquence d'utilisation : 1
Qualité :
approval testing of electronic electricity meters under fluctuating load conditions - paul rivers 3.
essai d’approbation des compteurs d’électricité électroniques dans des conditions de charge variables - paul rivers 3.
Dernière mise à jour : 2015-05-14
Fréquence d'utilisation : 1
Qualité :
process for the assembly and insulation-testing of electronic power components fitted to cooling elements
procede pour le montage et l'essai d'isolement de composants electroniques de puissance sur des refroidisseurs
Dernière mise à jour : 2014-11-25
Fréquence d'utilisation : 4
Qualité :
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these and other presented probe structures facilitate more rapid and cost-effective testing of electronic assemblies
les structures de sondes présentées facilitent le test d'ensembles électroniques et le rendent plus rapide et économique
Dernière mise à jour : 2014-12-03
Fréquence d'utilisation : 1
Qualité :