전문 번역가, 번역 회사, 웹 페이지 및 자유롭게 사용할 수 있는 번역 저장소 등을 활용합니다.
krävs
required
마지막 업데이트: 2011-10-23
사용 빈도: 1
품질:
deutsche elektrotechnische kommission im din und vde
deutsche elektrotechnische kommission im din und vde
마지막 업데이트: 2014-11-21
사용 빈도: 1
품질:
à tkomst till filen kräver lösenord.
internal error in mountman call the developers
마지막 업데이트: 2011-10-23
사용 빈도: 1
품질:
spara ändringar för befintlig tabellkonstruktion krävs nu.
saving changes for existing table design is now required.
마지막 업데이트: 2011-10-23
사용 빈도: 1
품질:
basegenskap% 1 krävs, men saknas i härledd definition.
base attribute %1 is required but missing in derived definition.
마지막 업데이트: 2011-10-23
사용 빈도: 1
품질:
kan inte ansluta: drivrutinen stöder inte alla funktioner som krävs
unable to connect - driver does n't support all functionality required
마지막 업데이트: 2011-10-23
사용 빈도: 1
품질:
använd direktanslutning (kan kräva root- behörighet)
& use direct connection (might need root permissions)
마지막 업데이트: 2011-10-23
사용 빈도: 1
품질:
경고: 보이지 않는 HTML 형식이 포함되어 있습니다
komponenten% 1 kräver antingen egenskapen% 2 eller% 3.
%1 element requires either %2 or %3 attribute.
마지막 업데이트: 2011-10-23
사용 빈도: 1
품질:
att ange automatisk numrering kräver att primär nyckel är angiven för aktuellt fält.
setting autonumber requires primary key to be set for current field.
마지막 업데이트: 2011-10-23
사용 빈도: 1
품질:
(referens iso 10360-2 eller vdi/vde 2617.)
‘circuit element’ is a single active or passive functional part of an electronic circuit, such as one diode, one transistor, one resistor, one capacitor, etc.
마지막 업데이트: 2014-11-21
사용 빈도: 1
품질:
testkroppen som används för bestämning av mätosäkerheten för en mätmaskin finns beskriven i vdi/vde 2617 del 2, 3 och 4.
the probe used in determining the measurement uncertainty of a dimensional inspection system shall be described in vdi/vde 2617 parts 2, 3 and 4.
마지막 업데이트: 2014-11-21
사용 빈도: 2
품질:
en endimensionell längd-”mätosäkerhet” som är lika med eller mindre (bättre) än (1,25 + l/1000) μm mätt med en testkropp vars ”noggrannhet” är mindre (bättre) än 0,2 μm (l är den uppmätta längden i mm). (referens: vdi/vde 2617 del 1 och 2.)
a one-dimensional length "measurement uncertainty" equal to or less (better) than (1,25 + l/1000) μm tested with a probe of an "accuracy" of less (better) than 0,2 μm (l is the measured length in millimetres) (ref.: vdi/vde 2617 parts 1 and 2);
마지막 업데이트: 2014-11-21
사용 빈도: 4
품질:
경고: 보이지 않는 HTML 형식이 포함되어 있습니다