검색어: autom (영어 - 프랑스어)

autom.
desserrage

telecommunications autom.
— tâches en rapport avec les activités agricoles et la pêche;

heckklappe schliesst autom.
le hayon se ferme autom.

doppel-fatc mit autom.
fatc double avec

this is a robot, autom.
voici notre robot, autom.

one case was the robot you saw there, autom.
dans un cas, c'était le robot que vous avez vu, autom.

programme autom is initiated in 700 at the end of test 412.
le programme autom est initié en 700 à l'issue du test 412.

obstacle avoidance processing method for vehicles using an autom ated highway system
procede servant a eviter des obstacles a des vehicules au moyen d'un systeme automatique de voie de circulation

...e precisely, fields and data to localize the activities). each information was autom...
les information s sont ensuite compilées d... ...ées et comparées à d’autres sources d’ information en vu de compléter les champs manquant comme, plus précisément,...

if it has remained in automatic control position a, sub-programme autom continues to proceed.
s'il est resté dans la positon d'automatisme a, le sous-programme autom continue à ce dérouler.

toxicmachlne°rotect autom work lighting heat ventil interiorreduce controlguards equip hazardsspaces air cond atlon design noise
controle toxique equipments autom. des espaces eclairage chauffage ventilation conception réduction barrières de de protection procedes de travail climatisation intérieure du bruit protection pour dangereux équipements

7a, 7b and 7c in order to describe the development of sub-programme autom which is step 413 of the main programme.
on va maintenant se référer aux figures 7a, 7b et 7c pour décrire le déroulement du sous-programme autom qui est l'étape 413 du programme principal.

kerosenes gastíiesel oil-total of which: autom. diesel heating gasoil heavy fuel oil other products total
78.7 96.7 64.7 85.7 455,8 gasoil chauffage fuel-oil lourd autres produits total

various autom ated search es and rec ord-by-record reviewing of small random subsets was performed to ensure da ta quality.
diverses recherches informatisées et un examen systématique des petits sous-ensembles aléatoires ont été effectués pour assurer la qualité des données.

office machines and autom. data-proc. machines organic chemicals articles of apparel and clothing accessories manufacture of matais, n.e.s.
machines et app. de bureau ou pour trait, autom. de Γ inf. produits chimiques organiques vêtements et accessoires du vêtement articles manufacturés en métal, n.d.a.

d isability m ust be attributable to m ilitary service or to experience as p o w insurance principle autom atic attribution if disability was sustained or aggravated while serving in a theatre of war or a s d a o therwise, c om pensation principle applies and link between service-related activities and the cause of the disability m ust be established legislation accords benefit of doubt to applicants a ttribution is assessed in fifths
l’inva lidité doit être attribuable au se rvice m ilitaire ou à la détention à titre de prisonnier de guerre principe d’assurance attribu tion autom atiqu e si l’invalidité est survenue ou s’est aggravée durant le service sur un théâtre de g ue rre o u da ns un e zs s sinon, le principe d’indem nisation s’applique et un lien doit être établi entre la cause de l’invalidité et les activités liée s au service la loi accorde le bénéfice du doute aux requéra nts l’attribution est évaluée en cinquièm es

a technique of dividing a linear feedback shift register (lfsr) into lfsrs in orde r to reduce power consumption by reducing the number of transitions in a deterministic built-in self test (bist) for testing a semiconductor device is provided. the determinis tic bist technique of testing the semiconductor device by applying test patterns to a sc an chain of the semiconductor device includes: dividing a test cube generated by autom atic test pattern generation (atpg) into a zero-set cube and a one-set cube; generatin g test patterns by combining test patterns generated by the zero-set cube and the one-s et cube; and comparing two generated test pattern values, and if the two test pattern va lues are the same, providing the generated test pattern value to an input of the scan ch ain, and otherwise, i.e. if the two test pattern values are different, providing the previous scan chain input value to an input of the scan chain.
l'invention concerne une technique de division d'un registre de décalage à rétroaction linéaire (lfsr) en plusieurs registres, de manière à diminuer la consommation de courant par limitation du nombre de transitions d'un contrôle automatique déterministe intégré (bist) servant à vérifier un composant à semi-conducteur. cette technique bist de vérification du composant à semi-conducteur par application de configurations de contrôle à une chaîne d'essai dudit composant, consiste à diviser un cube d'essai généré par une configuration d'essai automatique (atpg) en un cube zéro et en un cube un; à générer des configurations d'essai par combinaison des configurations d'essai générées par le cube zéro et le cube un; à comparer deux valeurs de configurations d'essai générées et, si ces deux valeurs sont identiques, à appliquer la valeur de configuration d'essai générée à une entrée de la chaîne d'essai, et sinon, à savoir si les deux valeurs sont différentes, à appliquer la valeur d'entrée précédente de chaîne d'essai à une entrée de ladite chaîne.