Je was op zoek naar: scanning electron microscope (Engels - Sloveens)

scanning electron
vrstični elektronski mikroskop

transmission electron microscope
presevni elektronski mikroskopi

electron microscopes
elektronski mikroskopi

scanning electron microscope capable of resolving down to 10 nm and operating at × 10000 magnification.
skenirni elektronski mikroskop z ločitvijo do 10 nm in s povečavo ×100000,

transmission electron microscopes;
presevni elektronski mikroskopi;

a scanning electron microscope (sem) is a type of electron microscope that produces images of a sample by scanning it with a focused beam of electrons.
visoko je zgodovinsko in kulturno pomembno naselje.

aliquots are extracted and filtered through a 0,2 μm pore size, polycarbonate filter and prepared for examination using scanning electron microscope (sem) techniques.
alikvoti se izvlečejo in filtrirajo skozi 0,2 μm velike pore polikarbonskega filtra in se pripravijo za preskušanje s tehniko skeniranja z elektronskim mikroskopom (sem).

electron microscopes, proton microscopes and diffraction apparatus
elektronski mikroskopi, protonski mikroskopi in difrakcijski aparati

energy filters, to be installed on the column of electron microscopes
energetski filtri, ki se namestijo na steber elektronskih mikroskopov

high power strip or scanning electron beam guns with a delivered power of more than 2,5 kw/cm for use in uranium vaporization systems;
pasovne ali skenirne elektronske puške, ki oddajajo elektronske curke z močjo, ki znaša na tarči več kakor 2,5 kw/cm, namenjene za uporabo v sistemih za uparjevanja urana;

high power strip or scanning electron beam guns with a delivered power of more than 2,5 kw/cm for use in uranium vaporization systems;
sestavljeni iz pasovnih ali skenirnih elektronskih topov, ki oddajajo elektronske curke z močjo, ki znaša na tarči več kot 2,5 kw/cm, namenjene za uporabo v sistemih za uparjevanje urana;

electron microscopes fitted with equipment specifically designed for the handling and transport of semiconductor wafers or reticles
elektronski mikroskopi, opremljeni s priborom, namenjenim posebej za rokovanje in transport polprevodniških rezin ali mrežic

parts and accessories for electron microscopes, proton microscopes and diffraction apparatus, n.e.s.
deli in pribor za elektronske mikroskope, protonske mikroskope in difrakcijske aparate, ki niso navedeni ali zajeti na drugem mestu

larger diameters can be measured by using lower sem magnifications but the method will be increasingly limited for finer fibre distributions and a tem (transmission electron microscope) measurement is recommended if the median diameter is below 0,5 μm.
večje premere je možno izmeriti, če se uporabijo manjše povečave sem, vendar je metoda izredno omejena na natančno porazdelitev vlaken, tako da se priporoča uporaba meritev s tem (prenosni elektronski mikroskop), če je mediana premera pod 0,5 μm.

the operation of radiation generators or accelerators, except electron microscopes, or radioactive sources for purposes not covered by point (a).
delovanje generatorjev sevanja ali pospeševalnikov, razen elektronskih mikroskopov, ali radioaktivnih virov za namene, ki niso zajeti pod točko (a).

the use of x-ray sets or radioactive sources for industrial radiography or processing of products or research of the exposure of persons for medical treatment and the use of accelerators except electron microscopes;
uporabo rentgenskih aparatov ali radioaktivnih virov za industrijsko radiografijo ali izdelavo, obdelavo in predelavo izdelkov ali raziskave ali obsevanje oseb pri zdravstvenih postopkih, in uporabo pospeševalnikov razen elektronskih mikroskopov;

(b) the use of radiation generators or radioactive sources for industrial radiography, the processing of products or research, and the use of accelerators, except electron microscopes;
(jj) uporaba povzročiteljev sevanja ali radioaktivnih virov za industrijsko radiografijo, obdelava izdelkov ali raziskave in uporaba pospeševalnikov, razen elektronskih mikroskopov;