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underfilled

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defectos de materiales

Laatste Update: 2014-11-14
Gebruiksfrequentie: 5
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Referentie: IATE

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to ensure that a dry food package is not underfilled or overfilled

Spaans

asegurarse de que un paquete de alimento seco no esté más o menos lleno de lo requerido.

Laatste Update: 2018-02-13
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Referentie: IATE

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west49 demonstrated that 100% of failed root canal specimens had unfilled or underfilled portals of exit at the apical area.

Spaans

west 49 había demostrado que el 100% de muestras fallidas de conducto radicular tenían portales de salida no obturados o subobturados en la región apical.

Laatste Update: 2014-04-09
Gebruiksfrequentie: 1
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227. the law on education established the possibility of funding underfilled rural education institutions, regardless of the number of students.

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227. la ley de educación estableció la posibilidad de financiar los centros educativos rurales con pocos matriculados, independientemente del número de alumnos.

Laatste Update: 2016-11-30
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fig. 3 illustrates the shift of a light beam when the distance from the rotation center to the deflection surface of the polygon mirror changes in an underfilled optical scanning apparatus.

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la figura 3 ilustra el desplazamiento que se produce en un haz de luz a medida que cambia la distancia desde el centro de giro hasta la superficie deflectora del espejo poligonal de un aparato de escaneado óptico por infraexposición.

Laatste Update: 2008-07-09
Gebruiksfrequentie: 1
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Referentie: Mig_2k

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the first embodiment uses an underfilled optical system in which the width of the light fluxes incident on a deflecting surface, in the main scanning direction, is smaller than the width of the deflecting surface in the main scanning direction.

Spaans

la primera realización utiliza un sistema óptico por infraexposición en el que la anchura de los flujos de luz que inciden en una superficie deflectante, en la dirección de escaneado principal, es más pequeña que la anchura de la superficie deflectante en la dirección de escaneado principal.

Laatste Update: 2008-11-10
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Referentie: Mig_2k

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fig. 4 is a graph showing the relationships between the difference in the distance from the rotation center to each deflection surface of the polygon mirror in the underfilled optical scanning apparatus and the shift amount of the light beam, and between the difference in the distance from the rotation center to each deflection surface of a polygon mirror in an overfilled optical scanning apparatus and the shift amount of a light beam.

Spaans

la figura 4 es un gráfico que representa las relaciones entre la diferencia de la distancia desde el centro de giro a cada superficie deflectora del espejo poligonal en el aparato de escaneado óptico por infraexposición y la magnitud del desplazamiento del haz de luz, y entre la diferencia de la distancia desde el centro de giro a cada superficie deflectora del espejo poligonal en el aparato de escaneado óptico por sobreexposición y la magnitud del desplazamiento del haz de luz.

Laatste Update: 2008-07-09
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Referentie: Mig_2k

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a so-called underfilled optical scanning apparatus (hereinafter referred to as "<PROTECTED>") in which the width of the deflection surfaces (reflecting deflection surfaces) of a rotating polygon mirror (hereinafter referred to as a polygon mirror) along the rotational direction thereof is made greater than the width of a light beam incident on the polygon mirror along a main scanning direction has heretofore been popular as an optical scanning apparatus in which a light beam is deflected in the main scanning direction by a polygon mirror as a light deflector and a surface to be scanned is scanned with the light beam.

Spaans

por consiguiente, un aparato de escaneado óptico popular ha sido un denominado aparato de escaneado óptico por infraexposición (denominado en lo sucesivo «<PROTECTED>»), en el que se fija la anchura de las superficies deflectantes (superficies deflectantes reflectantes) de un espejo poligonal giratorio (denominado en lo sucesivo espejo poligonal) a lo largo de la dirección giratoria del mismo en un valor superior a la anchura de un haz de luz que incide sobre el espejo poligonal a lo largo de la dirección de escaneado principal, en el que un haz de luz se desvía en la dirección de escaneado principal por acción de un espejo poligonal que actúa como deflector de la luz y se escanea una superficie deseada con el haz de luz.

Laatste Update: 2008-07-09
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