Você procurou por: spaltenadressendecodierer (Alemão - Francês)

speicher nach anspruch 10 mit einer 'vorrichtung zum adressieren über einen spaltenadressendecodierer während jedem der zeiträume.
mémoire suivant la revendication 10, comprenant des moyens pour adresser, via un décodeur d'adresse de colonne, pendant chacune desdites périodes de temps.

integrierte speicherschaltung mit redundanzschaltungen (mr, mr', sw, cmp) zum ersatz von fehlerhaften speicherzellenspalten durch redundanzspalten, wobei der speicher adressierungsmittel (dec, g) enthält, die es in der normalen betriebsart ermöglichen, jede spalte individuell zu adressieren, und es in einer gruppentestbetriebsart ermöglichen, gleichzeitig eine gruppe von mehreren spalten zu adressieren, um sie gleichzeitig zu programmieren, dadurch gekennzeichnet, daß sie enthält: - einen spaltenadressendecodierer (dec), der an adresseneingängen (a1 ...) die bits einer spaltenadresse und an komplementären eingängen (na1 ..) die komplemente dieser bits empfängt, einen redundanzspeicher (mr, mr') zur speicherung der adressen fehlerhafter speicher, eine vergleichsschaltung (sw, cmp) zum vergleich der empfangenen adressen und der adressen fehlerhafter spalten; wobei die vergleichsschaltung ein nor-gatter (cmp) mit mehreren eingängen enthält, wovon jeder eingang ein bit empfängt, dessen logikpegel von der identität zwischen einem an einem eingang des decodierers empfangenen bit und einem entsprechenden bit des redundanzspeichers abhängt; wobei ein auswahl-/abwahlmittel (dsl) vorgesehen ist, um eine ersatzspalte auszuwählen und gleichzeitig die auswahl aller anderen spalten zu sperren, wenn der ausgang des nor-gatters anzeigt, daß eine empfangene adresse mit einer fehlerhaften adresse identisch ist; wobei der gruppentest von einer logikschaltung gesteuert wird, die als reaktion auf ein gruppentest-steuersignal (r) einen identischen logikpegel an wenigstens einen eingang und einen entspechenden komplementären eingang des decodierers anlegt, um gleichzeitig eine spaltengruppe auszuwählen, wobei das gruppentest-steuersignal an die vergleichsschaltung angelegt wird, um gleichzeitig jede ersatzspalte einer fehlerhaften spalte dieser gruppe auszuwählen, und wobei das gruppentest-steuersignal an die auswahl-/abwahlmittel (dsl) angelegt wird, um die sperrung der auswahl aller anderen spalten aufzuheben.
mémoire en circuit intégré avec circuits de redondance (mr, mr', sw, cmp) pour remplacer des colonnes de cellules mémoires défectueuses par des colonnes de redondance, cette mémoire comportant des moyens d'adressage (dec, g) permettant en mode normal d'adresser individuellement chaque colonne et permettant en mode de test groupé d'adresser simultanément un groupe de plusieurs colonnes en vue de les programmer simultanément, caractérisée en ce qu'elle comporte : - un décodeur (dec) d'adresses de colonne recevant sur des entrées d'adresse (a1 ...) les bits d'une adresse de colonne et sur des entrées complémentaires (na1 ..) les compléments de ces bits, une mémoire de redondance (mr, mr') pour stocker des adresses de colonnes défectueuses, un circuit (sw, cmp) de comparaison des adresses reçues et des adresses de colonnes défectueuses; le circuit de comparaison comportant une porte nor (cmp) à plusieurs entrées, chaque entrée recevant un bit dont le niveau logique dépend de l'identité entre un bit reçu sur une entrée du décodeur et un bit correspondant de la mémoire de redondance; un moyen de sélection/désélection (dsl) étant prévu pour sélectionner une colonne de remplacement et simultanément inhiber la sélection de toutes les autres colonnes lorsque la sortie de la porte nor indique qu'une adresse reçue est identique à une adresse défectueuse; le test groupé étant commandé par un circuit logique qui, en réponse à un signal (g) de commande de test groupé, place un niveau logique identique sur au moins une entrée et une entrée complémentaire correspondante du décodeur pour sélectionner simultanément un groupe de colonnes, le signal de commande de test groupé étant appliqué au circuit de comparaison pour sélectionner simultanément toute colonne de remplacement d'une colonne défectueuse de ce groupe et le signal de commande de test groupé étant appliqué au moyen de sélection/désélection (dsl) pour annuler l'inhibition de la sélection desdites toutes les autres colonnes.