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Informações

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test d'écriture bhk

Inglês

writing

Última atualização: 2013-06-18
Frequência de uso: 1
Qualidade:

Referência: Anônimo

Francês

test d'écriture

Inglês

writing test

Última atualização: 2014-11-14
Frequência de uso: 5
Qualidade:

Referência: IATE

Francês

graphique 4 - Écriture: résultats moyens en pourcentage obtenus par ceux qui ont passé récemment le test d'écriture

Inglês

chart 4: writing: average percentage scores obtained by those who actually attempted the writing test

Última atualização: 2018-02-13
Frequência de uso: 1
Qualidade:

Referência: IATE

Francês

lorsque ce séquenceur effectue un test d'écriture pour l'un des deux étages considérés, il vérifie si l'information dépendant d'instruction de cet étage nécessite l'écriture d'un résultat

Inglês

when the write sequencing circuit performs the write test for a particular one of the stages, it tests whether the instruction dependent information in the particular one of the stages requires writing of a result

Última atualização: 2011-07-27
Frequência de uso: 1
Qualidade:

Referência: IATE

Francês

de préférence, la puissance d'enregistrement de courte marque lors du test d'écriture est changée de telle sorte que l'asymétrie et/ou la valeur beta est une valeur dans une fourchette désirée

Inglês

preferably, the short mark recording power in the test write is changed so that the asymmetry and/or the beta value is a value within a desired range

Última atualização: 2011-07-27
Frequência de uso: 1
Qualidade:

Referência: IATE

Francês

en outre, les motifs de test d'écriture utilisant plusieurs ports d'écriture et lisant les motifs à l'aide de plusieurs ports de lecture réduisent considérablement le temps de test pendant les tests de fabrication des semi-conducteurs.

Inglês

in addition, writing test patterns using multiple write ports and reading the patterns using multiple read ports significantly reduces test time during semiconductor manufacturing tests.

Última atualização: 2011-07-27
Frequência de uso: 1
Qualidade:

Referência: IATE

Francês

l'invention porte sur un procédé de diagnostic de cellule mémoire pour tester l'écriture et la lecture de données sur et à partir de chacune d'une pluralité de cellules mémoires en synchronisation avec une horloge

Inglês

a memory cell diagnostic method is provided for testing the writing and reading of data to and from each of a plurality of memory cells in synchronization with a clock

Última atualização: 2011-07-27
Frequência de uso: 1
Qualidade:

Referência: IATE

Francês

au cours de la phase de test, lorsque le système de reconnaissance doit identifier l'écriture manuscrite, on procède d'abord au traitement d'un échantillon test d'écriture manuscrite numérisée, comme au cours de la phase d'apprentissage, ce qui permet de générer des vecteurs spécifiques des caractéristiques à partir des trames d'entrée

Inglês

in the testing phase, where the recognition system is to identify handwriting, digitized test handwriting is first processed as in the training phase to generate feature-specific vectors from input frames

Última atualização: 2011-07-27
Frequência de uso: 1
Qualidade:

Referência: IATE

Francês

si l'on applique un critère plus sévère, p. ex. savoir lire et écrire une phrase sans difficulté, seuls 58% réussiraient le test de lecture, 64% le test d'écriture et 37% le test de calcul.

Inglês

if a more stringent criterion is applied, that a student should read a simple sentence without difficulty and write a dictated sentence without difficulty, only 58 per cent would pass in reading and 64 per cent in writing, while only 37 per cent would pass in written arithmetic.

Última atualização: 2018-02-13
Frequência de uso: 1
Qualidade:

Referência: IATE

Francês

cette invention se rapporte à un procédé servant à déterminer la puissance d'effacement d'un disque optique réinscriptible, ainsi qu'à un appareil correspondant. ce procédé consiste: à sélectionner d'abord plusieurs puissances de test d'effacement; puis à tester l'écriture du disque optique en utilisant une puissance d'écriture désignée du disque optique associée à plusieurs puissances de test d'effacement du disque optique respectivement, pour obtenir les paramètres correspondant à chaque puissance de test d'effacement du disque optique et représentant les effets d'effacement du disque optique; tels que l'instabilité des données par rapport au signal d'horloge; et à déterminer ensuite une puissance d'effacement utilisée pour ce disque optique réinscriptible, en établissant la relation de variation correspondante entre ces paramètres et les puissances de test d'effacement du disque optique en fonction des puissances de test d'effacement du disque optique et des paramètres correspondants.

Inglês

the present invention provides a method for determining the erasing power of rewritable optical disk and the apparatus thereof. the method comprises the steps: setting up a plurality of erasing test powers firstly; then testing optical disk writing using a designated writing power of optical disk together with the plurality of erasing test powers of optical disk respectively to obtain the parameters corresponding to every erasing test power of optical disk, the parameters representing the effects of erasing optical disk, such as the data-to-clock jitter; and then determining an erasing power used for said rewritable optical disk by establishing the corresponding variation relation between the parameters and the erasing test powers of optical disk according to the plurality of erasing test powers of optical disk and said corresponding parameters.

Última atualização: 2011-07-27
Frequência de uso: 1
Qualidade:

Referência: IATE

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