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probenoberfläche mit zylinderdurchmesser in mm
diamètre du cylindre en mm

optische geräte zur beobachtung einer probenoberfläche.
instruments optiques pour observer la surface d'un échantillon.

die kugel wird mit der probenoberfläche in berührung gebracht.
les charges d'essai sont données dans le tableau 3 ci-dessous en fonction des diamètres des billes.

verfahren und vorrichtung zum abbilden der parameterdifferenz einer probenoberflÄche
procede et appareil d'imagerie differentielle des parametres d'une surface d'echantillon

probenoberflÄche fÜr verbesserte auflÖsung bei der laserdesorptions- und laserionisationsflugzeitmassenspektroskopie
sm par tdv a desorption laser assistee par matrice a resolution amelioree

einrichtung zum abtasten einer von einer flÜssigkeit bedeckten probenoberflÄche
dispositif de palpage de la surface d'un échantillon recouverte par un liquide

die prüfkraft wird mit möglichst geringer stoßwirkung senkrecht zur probenoberfläche aufgebracht.
la bille est amenée au contact de la surface de la pièce à essayer et une charge progressivement croissante est appliquée à cette bille, perpendiculairement à cette surface et sans choc ni vibration, de manière à atteindre la valeur de la charge d'essai.

einrichtung zur messung der winkelverteilung von an einer probenoberfläche gestreuten geladenen teilchen
dispositif pour la mesure de la répartition angulaire des particules chargées et diffractées à la surface d'un échantillon

system nach anspruch 7, wobei der erste pfad im wesentlichen normal zu der probenoberfläche ist.
système selon la revendication 7, dans lequel ladite première voie est sensiblement normale à la surface d'échantillon.

verfahren und vorrichtung zur gleichzeitigen bestimmung der adhÄsion, der reibung und weiterer materialeigenschaften einer probenoberflÄche
procede et dispositif pour la determination simultanee de l'adherence, de la friction et d'autres proprietes d'une surface d'echantillon

auf der probenoberfläche bildet sich eine sehr dünne schwarze schicht ( ~ 10 mikron).
sur la surface des échantillons se forme une couche de recouvrement de couleur noire très mince (rwlo microns)

verfahren nach anspruch 1 oder 2, bei dem der elektronenstrahl unmittelbar vor dem auftreffen auf die probenoberfläche abgelenkt wird.
méthode d'analyse de surface selon la revendication 1 ou 2, où ledit faisceau d'électrons est dévié immédiatement avant incidence sur la surface de l'échantillon.

vorrichtung nach anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß der sondenstrahl vor dem fokusieren auf die probenoberfläche linear polarisiert wird.
appareil selon la revendication 8, caractérisé en ce que le faisceau testeur est polarisé de façon linéaire avant d'être focalisé sur la surface de l'échantillon.

beim kontakt der probenoberfläche mit dem flächensensor wird die position des motorischen antriebs ermittelt und mit einer abgespeicherten position der schnittebene verglichen.
des signaux de commande sont calculés à partir de ces deux valeurs de position pour le mécanisme motorisé.

verfahren nach anspruch 1 oder 2, bei dem die stelle auf der probenoberfläche, auf die der elektronenstrahl auftrifft, lokal erhitzt wird.
méthode d'analyse de surface selon la revendication 1 ou 2, où le spot sur la surface de l'échantillon vers lequel ledit faisceau d'électrons est irradié est chauffé localement.

verfahren nach anspruch 4, wobei die bewegungen der sondenspitze als daten relativer verschiebung der sondenspitze gegenüber dem abstand der sondenspitze von der probenoberfläche aufgezeichnet werden.
procédé selon la revendication 4, dans lequel ledit mouvement dudit embout de sonde est enregistré en tant que donnée du déplacement relatif dudit embout de sonde par rapport à la distance dudit embout de sonde jusqu'à ladite surface d'échantillon.

integrierende sphäre nach irgendeinem der ansprüche 1 oder 2, wobei die ersten und zweiten linien die probenoberfläche bzw. musteroberfläche an einem gemeinsamen punkt schneiden.
sphère d'intégration selon l'une des revendications 1 ou 2, dans laquelle lesdites première et deuxième lignes coupent la surface d'échantillon en un point commun.

bearbeitungsvorrichtung nach anspruch 1 oder aufzeichnungs- und wiedergabevorrichtung nach anspruch 2, wobei ferner eine probenbühne vorgesehen ist, die eine meßposition der probenoberfläche bewegen kann.
appareil d'usinage selon la revendication 1, ou appareil d'enregistrement et de reproduction selon la revendication 2, dans lequel il est de plus prévu un étage d'échantillon capable de déplacer une position de mesure sur la surface de l'échantillon.

vorrichtung nach anspruch 44, bei der die heizeinrichtung eine bestrahlungseinrichtung umfaßt, um die stelle auf der probenoberfläche, auf die der elektronenstrahl trifft, mit fokussiertem licht zu bestrahlen.
appareil d'analyse de surface selon la revendication 44, où ledit moyen de chauffage comprend un moyen d'irradiation d'un faisceau lumineux pour irradier un faisceau de lumière focalisé sur le spot de la surface de l'échantillon où est irradié le faisceau d'électrons.

compositvorrichtung zur herstellung von halbleitern mit einer vorrichtung zur oberflächenanalyse nach anspruch 26 oder 27, mit einer bearbeitungsvorrichtung zur feinbearbeitung einer probenoberfläche und mit einer transportvorrichtung, die die probe zwischen der oberflächenanalysevorrichtung und der bearbeitungsvorrichtung transportiert.
appareil composite pour la fabrication de semiconducteurs comprenant l'appareil d'analyse de surface de la revendication 26 ou 27, un appareil de fabrication pour fabriquer précisément la surface d'un échantillon et un appareil de transport pour transporter ledit échantillon entre ledit appareil d'analyse de surface et ledit appareil de fabrication.