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streifenmuster-Übereinstimmungsprüfungssystem nach anspruch 1, bei dem die axialen kandidaten paare sind, die aus den kandidatenpaaren ausgewählt sind, wovon jeder einen entsprechungswert hat, der nicht kleiner als ein dritter schwellenwert ist.
système d'appariement de motifs à stries selon la revendication 1, dans lequel les candidats axiaux sont des couples sélectionnés parmi les couples candidats, chacun ayant la valeur de correspondance non inférieure à une troisième valeur de seuil.

streifenmuster-Übereinstimmungsprüfungssystem nach anspruch 1, bei dem der entsprechungswert zwischen einer ersten einzelheit und einer zweiten einzelheit entsprechend einer anzahl von fällen definiert ist, in denen eine relation der ersten einzelheit eine differenz innerhalb eines ersten schwellenwertes zu einer entsprechenden relation der zweiten einzelheit hat; wobei die relation der ersten einzelheit eine anzahl von steglinien zwischen der ersten einzelheit und einer von vier kind-einzelheiten der ersten einzelheit ist, wobei jede der vier kind-einzelheiten der ersten einzelheit eine nächste einzelheit der ersten einzelheit in jedem von vier quadranten einer ersten lokalen x-y-ebene ist, die ihren ursprung an einer position der ersten einzelheit hat und deren y-achse in einer richtung der ersten einzelheit orientiert ist; und die entsprechende relation der zweiten einzelheit eine anzahl von steglinien zwischen der zweiten einzelheit und einer entsprechenden kind-einzelheit der zweiten einzelheit ist, wobei die entsprechende kind-einzelheit der zweiten einzelheit eine nächste einzelheit in einem entsprechenden quadranten einer zweiten lokalen x-y-ebene ist, die ihren ursprung an einer position der zweiten einzelheit hat und deren y-achse in einer richtung der zweiten einzelheit orientiert ist.
système d'appariement de motifs à stries selon la revendication 1, dans lequel la valeur de correspondance entre un premier point caractéristique et un deuxième point caractéristique est définie selon un certain nombre de cas où une relation du premier point caractéristique a une différence à l'intérieur d'une première valeur de seuil par rapport à une relation correspondante du deuxième point caractéristique : la relation du premier point caractéristique étant un certain nombre de lignes d'arête entre le premier point caractéristique et l'un de quatre points caractéristiques fils du premier point caractéristique, chacune des quatre points caractéristiques fils du premier point caractéristique étant un point caractéristique le plus proche du premier point caractéristique dans chacun de quatre quadrants d'un premier plan x-y local ayant son origine au niveau d'une position du premier point caractéristique et son axe y dirigé dans le sens du premier point caractéristique ; et la relation correspondante du deuxième point caractéristique étant un certain nombre de lignes d'arête entre le deuxième point caractéristique et un point caractéristique fils correspondant du deuxième point caractéristique, le point caractéristique fils correspondant du deuxième point caractéristique étant un point caractéristique le plus proche dans un quadrant correspondant d'un deuxième plan x-y local ayant son origine au niveau d'une position du deuxième point caractéristique et son axe y dirigé dans le sens du deuxième point caractéristique.